高功率測試技術
| 駕馭極限:唯一同時掌握3kV高壓與100A大電流的晶圓級測試方案 | |
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| 專為第三代半導體(SiC/GaN)打造的絕對安全屏障。面對高耐壓、低損耗與急速開關的嚴苛物理挑戰，我們提供從實驗室到量產的完整防護。 | |
Noto Sans TC突破物理極的兩大挑戰 Inter為什么傳統探針台無法應對SiC/GaN 的測試需求? |
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| SmartClamp 智能鉗位:kA級電流的安全閥 | |||
| 主動電流平衡技術(Active Current Balancing) 1.智能分流(Intelligent Shunt): 在多探針並聯測試中，系統能自動偵測並平衡每一根探針的電流負載。 2.燒毁防護(Burn Protection): 防止因接觸電阻差異導致單一探針過載，杜絕探針與焊墊(Pad)的物理燒毁。
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Multisite 高密度多工位測試 兼顧量產效率與高壓數據的純淨度 1.4x4高密度配置: 支援矩陣式排列測試，大幅提升產能(UPH)。 2.高壓串擾抑制(Crosstalk Suppression): 透過專業PCB布局與HV設計規則，有效隔離多個站點間的高壓干擾。 在追求量產速度的同時，確保每一顆晶片的測試數據都不受鄰近站點的高壓影響。 |
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極端環境下的絕對穩定
-40 ° C至200 ° C全溫域高壓防護
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3000V 下的極低漏電 即使在高壓環境下，仍能將系統漏電流控制在<300pA，確保絕緣性能。 |
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3000V 下的極低漏電 即使在高壓環境下,仍能將系統漏電流控制在<300pA，確保絕緣性能。 |
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熱/冷氣流保護 保護測試卡(Probe Card)不受高温熱卡盤(HotChuck)損傷。 |
高功率測試技術(High Power Test Technology)
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