「於微米間定格，在全維度洞察。」
「一次精準落針，揭示元件的完整生命週期。」
「起於毫釐的精準，成就不留死角的數據版圖。」
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產品介紹
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日本 APOLLOWAVE 半自動探針台 AP-300
AP-300 12 吋半自動探針台整合馬達化平台控制與可程式化測試功能，搭配高精度探針對位技術，可全面支援 12 吋晶圓量測需求。其穩定可靠的設計，為半導體元件提供高效率、高準確度的測試與特性分析解決方案，是研發與量產測試的理想選擇。
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SJD AK-F-200 8吋全自動探針台
SJD AK-F-200 8英吋全自動探針台，旨在提供高效能且精準的晶圓量測。系統配備全自動裝載口（Loader），整合了晶圓載具 (Cassette)、高精度晶圓取放手臂及自動尋邊器 (Aligner)，實現從自動取片、精準對位到測試產出的全程無人化作業，大幅優化量測吞吐量並確保數據一致性。
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SJD AK-F-300 12吋全自動探針台
SJD AK-F-300 12英吋全自動探針台，旨在提供高效能且精準的晶圓量測。系統配備全自動裝載口（Loader），整合了晶圓載具 (Cassette)、高精度晶圓取放手臂及自動尋邊器 (Aligner)，實現從自動取片、精準對位到測試產出的全程無人化作業，大幅優化量測吞吐量並確保數據一致性。
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SJD AK-S-200 8英吋半自動探針台
SJD AK-S-200 8吋半自動探針台提供精準的晶圓測試能力，採用半自動化控制設計，可支援最高 8 吋晶圓。具備高精度探針定位、直覺易用的操作介面，並具備高度彈性，適用於高功率、高頻率及高溫等多樣化測試應用。
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SJD AK-DS-Package 雙面探針台
SJD AK-DS-Package 雙面探針台支援晶圓頂部與底部的同步針測，實現卓越的精準量測。
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SJD AK-M-200 8英吋手動探針座
SJD AK-M-200 是一款專為8英吋 (200mm) 晶圓設計的手動探針量測系統。本產品兼具高度的測試靈活性與精確的操作手感，其堅固的結構設計能適應各種嚴苛的測試環境，提供卓越的量測穩定性。
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日本 APOLLOWAVE 真空半自動探針台
APOLLOWAVE 真空半自動探針台結合自動化探針定位與可控真空環境，在有效降低污染風險的同時，提供精準的半導體元件電性測試，確保測試結果可靠且準確。
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Keysight B1505A 功率元件分析儀
B1505A 為 Agilent（現為 Keysight）推出的曲線追蹤儀（Curve Tracer）。曲線追蹤儀（又稱曲線測試儀）是一種電子測試設備，工程師可用來分析半導體元件的電性特性。
曲線追蹤儀內建電流與電壓源，用以激勵被測設備（EUT, Equipment Under Test）。在測試過程中，曲線追蹤儀會對 EUT 的兩個端點施加掃描電壓（swept voltage），並測量各電壓下的電流大小，從而取得元件的電流-電壓特性曲線。
曲線追蹤儀內建電流與電壓源，用以激勵被測設備（EUT, Equipment Under Test）。在測試過程中，曲線追蹤儀會對 EUT 的兩個端點施加掃描電壓（swept voltage），並測量各電壓下的電流大小，從而取得元件的電流-電壓特性曲線。
