SJD Technology 史杰威科技

AP-300 12 吋半自動探針台整合馬達化平台控制與可程式化測試功能，搭配高精度探針對位技術，可全面支援 12 吋晶圓量測需求。其穩定可靠的設計，為半導體元件提供高效率、高準確度的測試與特性分析解決方案，是研發與量產測試的理想選擇。

SJD AK-F-200 8英吋全自動探針台，旨在提供高效能且精準的晶圓量測。系統配備全自動裝載口（Loader），整合了晶圓載具 (Cassette)、高精度晶圓取放手臂及自動尋邊器 (Aligner)，實現從自動取片、精準對位到測試產出的全程無人化作業，大幅優化量測吞吐量並確保數據一致性。

SJD AK-F-300 12英吋全自動探針台，旨在提供高效能且精準的晶圓量測。系統配備全自動裝載口（Loader），整合了晶圓載具 (Cassette)、高精度晶圓取放手臂及自動尋邊器 (Aligner)，實現從自動取片、精準對位到測試產出的全程無人化作業，大幅優化量測吞吐量並確保數據一致性。

SJD AK-S-200 8吋半自動探針台提供精準的晶圓測試能力，採用半自動化控制設計，可支援最高 8 吋晶圓。具備高精度探針定位、直覺易用的操作介面，並具備高度彈性，適用於半導體元件測試應用。

SJD AK-S-300 12吋半自動探針台提供精準的晶圓測試能力，採用半自動化控制設計，可支援最高 12 吋晶圓。具備高精度探針定位、直覺易用的操作介面，並具備高度彈性，適用於半導體元件測試應用。

SJD AK-DS-Package 雙面探針台支援晶圓頂部與底部的同步針測，實現卓越的精準量測。

SJD AK-M-200 是一款專為8英吋 (200mm) 晶圓設計的手動探針量測系統。本產品兼具高度的測試靈活性與精確的操作手感，其堅固的結構設計能適應各種嚴苛的測試環境，提供卓越的量測穩定性。