AK 系列手動探針台：SJD AK-DS-Package 雙面探針量測系統
本系統專為高精度半導體量測設計，具備卓越的對準穩定性與靈活性，是研發與品檢實驗室的理想選擇。
核心優勢與設計特點
主要應用領域
此系統廣泛應用於多種半導體元件的特性分析與測試，包括：
本系統專為高精度半導體量測設計，具備卓越的對準穩定性與靈活性，是研發與品檢實驗室的理想選擇。
核心優勢與設計特點
- 雙層針座結構設計：配備專用 DUT（待測物）載台面板及雙層探針面板，支援複雜的雙面量測需求。
- 高穩定對準系統：優化的機械結構設計，確保量測過程中保持極高的對準精度與系統穩定性。
- 多功能整合支架：內建專用顯微鏡、CCD 相機及 LED 照明系統支架，提升觀測成像的清晰度與操作便利性。
| 項目 | 規格描述 |
| 手動治具載台 XY 軸行程 | 100mm x 100mm |
| 手動治具載台 Z 軸行程 | 50mm |
| 結構配置 | 雙層探針面板 + DUT 載台 |
| 支援配件 | 顯微鏡、CCD 影像系統、LED 照明 |
主要應用領域
此系統廣泛應用於多種半導體元件的特性分析與測試，包括：
- 功率元件 (Power Devices)：高壓或高電流元件量測。
- 射頻元件 (RF Components)：高頻通訊元件特性評估。
- 微機電系統 (MEMS)：微型感測器與致動器測試。
- 通用半導體元件：各類 IC 與晶圓級量測。