AKF 系列全自動探針測試台
SJD AK-F-200|8 吋全自動探針測試解決方案(200 mm)
精準 × 穩定 × 高功率量測
SJD AK-F-200 為 AKF 系列 8 吋全自動探針測試台,專為高可靠度晶圓電性量測而設計。結合全自動化控制、高功率支援與直覺式軟體介面,提供穩定、精準且高效率的測試體驗,廣泛適用於研發、製程驗證及先進元件測試應用。
支援多元測試環境
選配彈性,因應不同需求
SJD AK-F-200|8 吋全自動探針測試解決方案(200 mm)
精準 × 穩定 × 高功率量測
SJD AK-F-200 為 AKF 系列 8 吋全自動探針測試台,專為高可靠度晶圓電性量測而設計。結合全自動化控制、高功率支援與直覺式軟體介面,提供穩定、精準且高效率的測試體驗,廣泛適用於研發、製程驗證及先進元件測試應用。
支援多元測試環境
- 支援 8 吋(200 mm)晶圓
- 量測溫度範圍 –40°C 至 200°C,滿足高低溫測試需求
- 專為 高功率應用 打造,最高可支援 3 kV / 200 A
- 適用於 IV / CV / RF 量測
- 彈性配置,對應多種元件與測試條件
- 搭載 專利 Anti ArcTech® 防電弧技術
- 全球首創的防電弧解決方案,有效提升高電壓量測的安全性與測試穩定度
- 高功率真空吸附晶圓盤,確保量測過程穩定可靠
- 高電壓、高電流探針組,因應嚴苛測試需求
- 透過 GPIB 介面 與量測儀器無縫整合,支援測試自動化
- 直覺易用的軟體介面,快速設定、輕鬆操作,提升整體測試效率
- 整合晶圓載台(Cassette)、晶圓機械手臂(Robot Arm)與晶圓尋邊器(Aligner),實現無人化連續測試。
- 高產能設計
選配彈性,因應不同需求
- 防震系統(Vibration System)
- CDA / 真空系統(CDA / Vacuum System)