AK 系列手動探針座：SJD AK-M-100 (4 英吋 / 100mm)
SJD AK-M-100 是一款專為實驗室開發設計的 4 英吋手動探針系統，具備高穩定性與優異的擴充靈活性，是進行半導體元件特性分析的理想基礎平台。
1. 基礎設備規格 (Base Specifications)
為了因應不同的測試需求，AK-M-100 提供豐富的模組化選配方案：
SJD AK-M-100 是一款專為實驗室開發設計的 4 英吋手動探針系統，具備高穩定性與優異的擴充靈活性，是進行半導體元件特性分析的理想基礎平台。
1. 基礎設備規格 (Base Specifications)
- 晶圓尺寸： 支援最高 4 英吋 (100mm) 晶圓及各式小尺寸樣品量測。
- 操作模式： 全手動精密控制，提供直覺且精準的定位體驗。
- 微弱電流測試： 具備低洩漏（Low Leakage）特性，確保訊號擷取的純淨度。
- 高頻測試支援： 支援高頻（High Frequency）量測環境，滿足射頻元件評估需求。
為了因應不同的測試需求，AK-M-100 提供豐富的模組化選配方案：
- 溫控系統 (Thermal Chuck)： 可整合高低溫載台，支援 -40 °C 至 +200 °C 的溫度特性測試。
- 探針類型： 可依應用需求選配 DC (直流)、CV (電容-電壓) 或 RF (射頻) 專用探針。
- 環境輔助： 可整合 CDA (乾燥空氣) 或 Vacuum (真空) 系統，用於樣品吸附或環境控制。